Технология eFuse, разработанная инженерами IBM, сулит приблизить корпорацию еще на один шаг к реализации концепции «самоуправляемых» (autonomic) вычислительных систем. В будущем микросхемы могут обнаруживать собственные изъяны и менять конфигурацию без вмешательства человека.
Перемычки, построенные по технологии eFuse, заменят собой лазерные перемычки, которые использовались для «ремонта» микросхем, находящихся еще на стадии производства. Перемычки eFuse позволят перенаправлять трафик для «обхода» неработающей или неисправной зоны.
До сих пор большинство производителей использовали лазерные перемычки, которые активизировались на стадии тестирования. После этого микросхема вырезалась из общей пластины. Система тестирования, встроенная в микросхему, выявляла дефекты, возникшие в процессе производства, и сообщала эту информацию технологу, который определял, какие перемычки следует пережигать, чтобы трафик обходил сбойный участок. Эти системы отличались большой сложностью и не использовались после окончательных тестов. Сочетание же электрических перемычек и еще более сложного механизма тестирования значительно расширяет возможности самотестирования чипа.
Метод, предложенный IBM, опирается на принцип «электрической миграции». Перемычки представляют собой компоненты, которые «разрываются» при прохождении по ним электрического тока. Подобные решения известны очень многим — это плавкие вставки. Главная сложность при разработке данной технологии состояла в том, чтобы ток гарантированно попадал только на перемычки. IBM удалось решить эту проблему. Когда система тестирования микросхемы фиксирует сбойный участок, она активизирует электрические перемычки и сигнал отклоняется от неисправных транзисторов. Это повышает эффективность работы микросхемы, поскольку процедура самотестирования может повторяться много раз на протяжении жизненного цикла процессора по мере изменения рабочей нагрузки.