В целях повышения коэффициента выхода работоспособных процессоров перед разделением основы на индивидуальные чипы, как правило, проводится тестирование на наличие сбойных участков. Затем, по его результатам выполняется лазерное пережигание специальных плавких микроперемычек в целях перенаправления сигнала в обход дефектных транзисторов.
В IBM разработана технология eFuse, предусматривающая пережигание перемычек иным способом - с помощью электрического тока. Инженерам IBM удалось добиться того, чтобы ток большой силы, возникающий при явлении электропереноса (до сих пор считавшегося в производстве микросхем крайне вредным), проходил через перемычку, не затрагивая соседние участки. Наряду с перемычками нового типа eFuse использует механизм контроля работоспособности микросхемы, который всякий раз при обнаружении сбойного участка отдает команду на пережигание соответствующих перемычек в целях отвода сигнала. Таким образом, технология позволяет не только повысить коэффициент выхода при производстве, но и обеспечить возможность самовосстановления микросхемы в период ее использования. EFuse обеспечивает и еще одно преимущество: применение метода не требует внесения значительных изменений в существующие технологические процессы производства микросхем. По словам представителя IBM, отныне eFuse будет применяться во всех процессорах корпорации, выпускаемых в соответствии с нормой проектирования 90 нм.
Служба новостей IDG, Бостон